Q1.使用微電阻計RM3544測量保險絲的電阻。開始測量后電阻值慢慢下降。請問是什么原因？

A.可能是以下原因。

1.溫度的影響
微電阻計RM3544通過使用4端子測量方法流動恒定電流來測量。熱量可能隨著時間的推移而變化，并且電阻可能根據周圍環(huán)境（例如室溫和空調等）而改變。
2.接觸狀態(tài)的影響
連接測量探頭（測試線）時，壓力可能會發(fā)生變化。 例如，當對被測物的接觸壓力上升（適應）時，電阻值可能會減小。
3.氧化膜的影響
根據被測物，通過測量電流去除表面的氧化膜，并且電阻值可能會變低。

Q2.希望延長電阻計RM3545用夾型測試線的分叉部分，請問可以嗎？

A.如果切斷綁扎Hi端電纜和Lo端電纜的管子，則分叉部分會變長。電纜的延長也可以用半標準產品制造，所以請另外咨詢。

適用產品（主機）： RM3544、RM3545、BT3562、BT3563等
夾型測試線：L2101、L2107

Q3.電阻計的直流電阻測量和LCR測試儀的直流電阻測量有什么區(qū)別？

A.基本測量原理是相同的，都是施加直流信號測量電阻。

LCR測試儀是輸出固定電壓進行測量，也有可以任意設置施加到被測物上的電壓值、電流值。

而電阻計是根據測量量程施加恒電流進行測量的。

相比比LCR測試儀，可以施加更大的電流，因此能夠穩(wěn)定測量低電阻（mΩ）。

Q4.請告知電阻測試儀的測量原理

A.在被測物上施加電源I，電阻R與其電阻R產生電壓V。

這是R=V/I的關系。通過這個關系式求出電阻R。

電阻計有3種測量方式，分別是：

在測試物上施加電流的方式（CC:Constant Current）、

在測試物兩端施加電壓的方式（CV:Constant Voltage）

設置在測試儀的輸出阻抗和測試物的串聯連接的兩端施加電壓的方式。

HIOKI的電阻計是CC方式。高阻計是CV方式，LCR測試儀根據機型可選3種方式。

Q5.針型探頭的調零在電阻值小的銅板上做不行嗎？

A.針型探頭的調零請使用調零板9454。

銅板是金屬，根據測量位置不同帶有微小的電阻值。

這個值會成為測量值的誤差。

Q6.要將電阻計組裝到自動設備中，所以想要自制測試探頭，有什么注意事項嗎？

A.測試線的電纜部分已進行屏蔽，用戶自制額實現時請注意下述事項。

請進行屏蔽（和SOURCE-L連接）。

線長控制在5m以內。（線材的電阻在100mΩ/m以內）

使用電阻計3541時，在20mΩ量程和200mΩ量程(測試電流1A)下，SOURCE端子的往返電阻值請控制在300mΩ內。

9287-10的夾子部分分開使用的情況下，請注意不要讓SOURCE-Hi、SENCE-Hi、SENCE-Lo的屏蔽線接觸芯線。

Q7.電阻計有直流式和交流式的。兩者的區(qū)別是什么？

A.直流方式還是交流方式，是要根據測量對象來選擇合適的方法。關于各個優(yōu)缺點請參考表格。

直流式和交流式的區(qū)別